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    • JJG 629-1989
    多晶X射線衍射儀檢定規程

    Verification Regulation for Polycrystalline X-Ray Diffractometer

    JJG 629-1989 中，可能用到以下耗材

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    WYPALL* X系列通用工業擦拭布

    賽默飛實驗室耗材產品

     

    6500系列精確質量數Q-TOFLC/MS備件

    6500系列精確質量數Q-TOFLC/MS備件

    北京攜測技術有限公司

     

    D3178-02 鋼制精確數顯卡尺

    D3178-02 鋼制精確數顯卡尺

    上海阿拉丁生化科技股份有限公司

     

    依利特Si60色譜柱

    依利特Si60色譜柱

    大連依利特分析儀器有限公司

     

    SZ-22單面可調狹縫

    SZ-22單面可調狹縫

    安合盟（天津）科技發展有限公司

     

    10-425 黑色 鍵合 瓶蓋 含 (帶狹縫)

    10-425 黑色 鍵合 瓶蓋 含 (帶狹縫)

    上海安譜科學儀器有限公司

     

    9-425 灰色 BONDED 瓶蓋 W/ 帶狹縫

    9-425 灰色 BONDED 瓶蓋 W/ 帶狹縫

    上海安譜科學儀器有限公司

     

    JJG 629-1989

    標準號
    JJG 629-1989
    發布日期
    1989年
    實施日期
    1990年06月15日
    廢止日期
    2014-12-15
    中國標準分類號
    A61
    發布單位
    CN-JJG
    代替標準
    JJG 629-2014

    JJG 629-1989 中可能用到的儀器設備

    折光儀(折射儀) X射線衍射儀(XRD) 光纖光譜儀 ICP-MS 核磁共振波譜儀 掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀） 其它光學測量儀 同位素質譜儀 氣質聯用儀 電鏡制樣設備 X射線(衍射)儀/能譜儀部件及外設 X射線顯微鏡 X射線散射儀 X射線能譜儀(EDS) X射線實時成像檢測系統 溫濕度計、濕度發生器 X射線探傷機、X射線探傷儀 工業CT 基因/DNA測序儀 PM2.5/PM10/PM1/TSP環境大氣顆粒物監測儀 測油儀/油分濃度儀 粉塵測定儀/粉塵儀

    誰引用了JJG 629-1989 更多引用

    SN/T 3013-2011 銅精礦與銅熔煉渣的鑒別規程 DL/T 1151.22-2012 火力發電廠垢和腐蝕產物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析


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    • 床戏视频