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    • JJG(地質) 1016-1990
    透射電子顯微鏡檢定規程

    Calibration Regulations for Transmission Electron Microscopy


    JJG(地質) 1016-1990 中，可能用到以下儀器設備

     

    日本電子JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡

    日本電子JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-2100F 場發射透射電子顯微鏡

    JEM-2100F 場發射透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡

    JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Talos F200i場發射透射電子顯微鏡(S/TEM)用于材料科學

    Talos F200i場發射透射電子顯微鏡(S/TEM)用于材料科學

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡

    JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

    JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Glacios Cryo-TEM冷凍透射電子顯微鏡

    Glacios Cryo-TEM冷凍透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    日本電子JEM-Z200FSC （CRYO ARM 200）場發射冷凍電子顯微鏡

    日本電子JEM-Z200FSC （CRYO ARM 200）場發射冷凍電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡

    JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡

    FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Talos L120C 透射電子顯微鏡

    Talos L120C 透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Spectra Ultra S/TEM掃描透射電子顯微鏡

    Spectra Ultra S/TEM掃描透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡

    JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

    Tecnai G2 20 200kV透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-2800 高通量透射電子顯微鏡

    JEM-2800 高通量透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Themis透射電子顯微鏡

    Themis透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Talos Arctica G2冷凍透射電子顯微鏡

    Talos Arctica G2冷凍透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-2100 透射電子顯微鏡

    JEM-2100 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    賽默飛世爾Spectra S/TEM掃描透射電子顯微鏡

    賽默飛世爾Spectra S/TEM掃描透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-2200FS 透射電子顯微鏡

    JEM-2200FS 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Tecnai G2 Spirit 120kV透射電子顯微鏡

    Tecnai G2 Spirit 120kV透射電子顯微鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

    JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

    Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEM-1400Plus 透射電子顯微鏡

    JEM-1400Plus 透射電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Titan Krios G2冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

    Titan Krios G2冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    日本電子JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡

    日本電子JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡

    JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件

    JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JSM-2200FS能量過濾場發射透射電鏡

    JSM-2200FS能量過濾場發射透射電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    JEM-F200冷場發射透射電鏡

    JEM-F200冷場發射透射電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    冷場發射球差校正透射電鏡

    冷場發射球差校正透射電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Talos F200系列透射電鏡F200S/F200X

    Talos F200系列透射電鏡F200S/F200X

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    JEOL JEM-Z300FSC（CRYO ARM 300） 冷凍透射電鏡TEM

    JEOL JEM-Z300FSC（CRYO ARM 300） 冷凍透射電鏡TEM

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    Talos 透射電鏡

    Talos 透射電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Titan Krios G3i 300kV冷凍透射電鏡

    Titan Krios G3i 300kV冷凍透射電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Tundra Cryo-TEM冷凍透射電鏡

    Tundra Cryo-TEM冷凍透射電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Metrios TEM透射電鏡半導體工業

    Metrios TEM透射電鏡半導體工業

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    Titan Themis TEM透射電鏡

    Titan Themis TEM透射電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    CleanCHK

    CleanCHK

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    超小型低電壓臺式透射電子顯微鏡LVEM5

    超小型低電壓臺式透射電子顯微鏡LVEM5

    QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司

     

    Delong LVEM25 小型低電壓透射電子顯微鏡

    Delong LVEM25 小型低電壓透射電子顯微鏡

    QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司

     

    ZEISS蔡司LIBRA能量過濾式透射電子顯微鏡

    ZEISS蔡司LIBRA能量過濾式透射電子顯微鏡

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    ORIONTM氦離子顯微鏡

    ORIONTM氦離子顯微鏡

    卡爾蔡司(上海)管理有限公司

     

    TransferMan NK 2 顯微操作儀

    TransferMan NK 2 顯微操作儀

    艾本德中國 Eppendorf China

     

    標準號
    JJG(地質) 1016-1990
    發布
    1990年
    發布單位
    國家計量檢定規程
     
     

    JJG(地質) 1016-1990相似標準

    JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規程 JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法 JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術條件 T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則

    JJG(地質) 1016-1990 中可能用到的儀器設備

    透射電鏡TEM 電鏡附件及外設


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