掃描電子顯微鏡SEM 機構組成 掃描電子顯微鏡由三大部分組成:真空系統,電子束系統以及成像系統。 掃描電子顯微鏡SEM 基本參數 放大率:通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到 場深:掃描電子顯微鏡SEM中,位于焦平面上下的一小層區域內的樣品點都可以得到良好的會焦而成象。...
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣,所不同的是前者用電子束作光源,用電磁場作透鏡。今天小編主要介紹下透射電子顯微鏡。 透射電子顯微鏡是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件)上顯示出來。 ...
有了上述兩方面的理論,1932年,德國柏林工科大學高壓實驗室的M.Knoll和E.Ruska研制成功了第1臺實驗室電子顯微鏡,這是后來透射式電子顯微鏡(transmission electron microscope,TEM)的雛形。? 其加速電壓為70kV,放大率僅12倍。盡管這樣的放大率還微不足道,但它有力地證明了使用電子束和電磁透鏡可形成與光學影像相似的電子影像。...
由于電子的德布羅意波長非常短,透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多,可以達到0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬~百萬倍。因此,使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結構,甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結構,比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數萬倍。TEM在中和物理學和生物學相關的許多科學領域都是重要的分析方法,如癌癥研究、病毒學、材料科學、以及納米技術、半導體研究等等。 ...
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