x射線衍射峰寬

更新時間： 2024-06-07 00:20:13

x射線衍射峰寬的熱門新聞

x射線衍射峰寬的全部標準： x射線衍射峰寬標準

XRD和TEM在樣品物象上表征的區別

樣品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三個方面。物相分析一般使用 X－射線粉末衍射儀（XRD）和電子顯微鏡。形貌和粒度可通過掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）直接觀測到粒子的大小和形狀。但由于電鏡只能觀測局部區域，可能產生較大的統計誤差。

半導體所銻化物二類超晶格紅外探測器研究取得重要突破

銻化物InAs/GaSb二類超晶格材料具有二型能帶結構，電子有效質量大，俄歇復合率低，波長調節范圍大（約3-30微米），在高性能制冷型紅外探測器領域具有重要應用。與碲鎘汞紅外探測器相比，二類超晶格紅外探測器材料均勻性好，成本低，在中波及長

中國學者推翻小角X射線散射基礎理論震驚全球晶體界！

眾所周知，高分子在結晶時形成折疊鏈片晶并進一步組裝成片晶簇和球晶。片晶厚度和長周期決定著高分子的熱力學性質，是結晶高分子的兩個重要的物理量。小角X射線散射是探測這些納米尺寸有序結構的有力武器。長期以來，人們認為小角X射線散射來自于片晶簇內

XRD常見問題詳解，超實用！！合肥研究院提出高分子片晶小角X射線散射新機制 XRD常見問題詳解，超實用！！ X射線衍射儀使用中的常見問題故障排除實驗室光學儀器--X射線衍射儀的常見問題分析納米藥物的表征和質量控制（二） X射線衍射光學部件的制備及其光學性能表征（一） X射線衍射儀相關知識了解 XRD、TEM、AFM表征粒徑的方式及異同顯微結構分析 X射線衍射儀技術（XRD）能解決哪些問題 X射線衍射儀技術（XRD）能解決哪些問題？ X射線衍射儀可以檢測物質材料的微觀結構性質

與x射線衍射峰寬有關的儀器設備

SuperNova微焦斑單晶衍射儀

參考成交價格：暫無

安捷倫 / agilent, SuperNova系統緊湊，操作方便，穩定性高，維護簡單，使用戶可以將全部精力集中于課題研究。

布魯克, 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！