x射線衍射測優缺點

更新時間： 2024-05-07 20:36:29

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波長色散X射線熒光光譜儀的新進展

X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀

X射線熒光光譜原理

X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。 X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的

X射線衍射儀法

X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以

X射線衍射儀法 X射線熒光光譜分析法 XRD原理 XRD原理 XRD原理 XRD 原理 XRD原理 XRD 原理 XRD 原理物理學方法在古陶瓷考古中的應用（一） x射線衍射、x熒光、直讀光譜區別納米材料粒度測試儀器和方法大全納米材料粒度測試儀器和方法大全

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SuperNova微焦斑單晶衍射儀

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安捷倫 / agilent, SuperNova系統緊湊，操作方便，穩定性高，維護簡單，使用戶可以將全部精力集中于課題研究。

布魯克, 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！