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  • 基質輔助激光解吸電離飛行 時間質譜在聚合物表征中的應用

    上一篇 / 下一篇  2008-04-27 21:41:30/ 個人分類:質譜

    • 文件版本: V1.0
    • 開發商: 來源網絡
    • 文件來源: 網絡
    • 界面語言: 簡體中文
    • 授權方式: 免費
    • 運行平臺: Win9X/Win2000/WinXP
    第29 卷,第1 期,2008年1月,質 譜 學 報

    基質輔助激光解吸電離飛行 時間質譜聚合物表征中的應用
    王曉青,陳栓虎 ,西北大學化學系


    摘要:綜述了基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜(MALDI-TOF)的基本原理,基質選擇和樣品制備方法、分析離子化試劑等因素對實驗結果的影響,以及造成質量歧視的原因。并闡述了MALDI 技術在確定聚合物相對分子質量分布,聚合物末端基 團,共聚物組成和推斷反應及降解機理上的應用。

    關鍵詞:基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜;聚合物;分子量;末端基 



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    TAG: malditof聚合物

     

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