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  • X射線粉末衍射儀(XRD)

    上一篇 / 下一篇  2010-02-19 18:26:24/ 個人分類:儀器設備

    X射線粉末衍射儀(XRD) 簡介: 
    儀器型號:X'Pert Pro MPD 
    廠商: 荷蘭 飛利浦 

    性能參數: 

    • 線性度:+/-0.0025
    • 重現性: +/-0.0001
    • 掃描速度范圍:0.001-1.27°/s
    • 最小步長:0.0001°
    • 2θ 測量范圍:0~167°;
    • 測角儀半徑可調范圍:135-230mm
    • 管軸最大轉距:30nm
    • 探測器最大轉距:10nm
     
    應用范圍: 

    測試項目:

    • 普通圖譜掃描,指定方法錄譜,物相定性,薄膜圖譜常規掃描,小角錄譜,晶粒度測定,物相半定量,薄膜厚度粗糙度分析,薄膜物相定性,原位錄譜,結晶度測定,(包含各晶相含量),晶胞參數指標化,結構精修,
     
    說明: 

    • 粉末,多晶樣品
     
    實驗室科學樓2層 207 
    負責人: 黃清明 
    聯系電話:87893206 
    電子郵件:qmhuang[at]fzu.edu.cn 

    TAG: xrd

     

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