X射線衍射儀---D8 ADVANCE型

　　X射線衍射(XRD)是所有物質，包括從流體、粉末到完整晶體，重要的無損分析工具。對材料學、物理學、化學、地質、環境、納米材料、生物等領域來說，X射線衍射儀都是物質結構表征，以性能為導向研制與開發新材料， 宏觀表象轉移至微觀認識，建立新理論和質量控制不可缺少的方法。通過對置于分光器(測角儀)中心的樣品上照射X射線，X射線在樣品上產生衍射，改變X射線對樣品的入射角度和衍射角度的同時，檢測并記錄X射線的強度，可以得到X射線衍射譜圖。用計算機解析譜圖中峰的位置和強度關系，可以進行物質的定性分析、晶格常數的確定和應力分析等。而且通過峰高和峰面積也可進行定量分析。除此以外，通過峰角度的擴大或峰形進行粒徑、結晶度、精密X射線結構解析等各種分析，還可以進行高低溫及不同氣氛與壓力下的結構變化的動態分析等。

　　1. 主要性能

　　D8型X射線衍射儀系列是當今世界上最先進的X射線衍射儀系統。它的設計精密、硬件、軟件功能齊全，能夠精確對金屬和非金屬多晶粉末樣品進行物相檢索分析、物相定量分析、晶胞參數計算和固溶體分析、晶粒度及結晶度分析等。儀器包括陶瓷X光管、X射線高壓發生器、高精度測角儀、閃爍晶體探測器、計算機控制系統、數據處理軟件、相關應用軟件和循環水裝置。

　　2. 技術指標

　　最大輸出功率：≥2.2 kW；電流電壓輸出穩定性優于0.005% (外電壓波動10%)時；X射線防護：國際安全認證，射線劑量≤0.2μSv/h。

　　光管類型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可選，更換無需校準;光管功率：2.2 kW；長細焦斑：0.4×12mm；最大管壓：60kV；最大管流：80mA；

　　測角儀：采用步進馬達驅動和光學編碼器技術，掃描方式θ/θ或θ/2θ測角儀；最小步進角度0.0001 度；角度重現性0.0001 度；

　　掃描角度范圍2θ=-110 o ～168 度；最高定位速度 ≥1500度/min。索拉(Soller)狹縫：0.02, 0.04, 0.08 rad。

　　探測器：閃爍晶體計數器;動態范圍≥2×106 cps；背底噪聲< 0.5 cps。固體探測器：鋰漂移硅能量色散型;測量范圍2keV ～ 30keV；能量分辨率： E ≥279 eV。

　　系統軟件：系統控制和數據采集軟件;物相檢索軟件及數據庫;粉末衍射全分析軟件包(相分析軟件、物相定量分析軟件;精密測定晶胞參數;樣品中無定型含量;微晶尺寸和(或)微觀應力分析軟件;結構精修和面間距與角度計算;模擬復雜混合相或單相的無標定量分析);殘余應力分析軟件;晶粒度分析軟件。

　　3. 應用范圍

　　D8 ADVANCE型X射線衍射儀集成最先進的技術提供了完善的衍射解決方案，可進行如下工作，物相檢索;物相定量分析;嵌鑲尺寸(晶粒大小)及微觀應力(晶格畸變)測定;線形分析：除函數擬合法外，含獨家開發的基本參數法分析軟件，用作物相分析、點陣參數測定等數據處理前進行線形優化處理；Kα剝離、數據平滑、傅立葉變換、3維圖形功能等。廣泛應用于物理、化學、藥物學、冶金學、高分子材料、生命科學及材料科學。可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體，為科學研究提供準確可靠的數據。

　　4. 樣品要求

　　來樣標明名稱、來源、主要成分、待測樣品包含元素;

　　固體粉末：大于1g，建議事先處理300目左右。