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  • 基于光譜能量分析的介質厚度測量方法

    上一篇 / 下一篇  2008-12-10 14:28:11/ 個人分類:光譜分析

    • 文件版本: V1.0
    • 開發商: 本站原創
    • 文件來源: 本地
    • 界面語言: 簡體中文
    • 授權方式: 免費
    • 運行平臺: Win9X/Win2000/WinXP
    摘要: 介紹了一種對厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度測量方法。通過激光束垂直照射被測物,用光譜儀接受并分析反射光各波長的能量。以此數據分析出介質對不同波長光線的反射率,找出反射率極大的波長。使用這些具有反射極大的波長進行計算,就得到介質的厚度值。該測量方案結構簡單,測量精度較高。



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    TAG: 光譜光譜儀光學測量能量分析厚度檢測

     

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