電感耦合等離子體質譜分析技術講座

最初的ICP-MS 的概念出現在1970 年，是源于繼ICP-AES 技術快速發展之后而產生的對下一代多元素分析儀器系統的需求。盡管那時這個儀器沒進入市場，但很明顯，特別是對于地球化學分析來說，基體問題是很嚴重的。在發射光譜中，強的多譜線的主要基體元素如Ca, Al 和Fe 的測量對痕量元素來說，選擇無干擾的譜線是很困難的。另外，地質勘查中感興趣的元素主要集中在具有復雜光譜且在發射光譜中具有較差的檢出限的稀有重金屬元素。