SGS提供金屬鍍層測試服務
SGS offer metal coating
test services
Key words: 鍍層厚度, 鍍層成分分析,表面污點分析, 庫倫法, 金相法, 渦流法, X射線熒光法, 電子探針, 能譜分析儀, 異物分析, X-Ray,
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SGS針對鍍層方面提供全面的檢測服務
鍍層厚度測試
鍍層厚度測試方法主要是庫倫法,金相法,渦流測量法和X射線熒光法
庫倫法
測量范圍:0-35um誤差為±10%
精度:0.01um
適用范圍:可測量一層鍍層金屬厚度、多層鍍層金屬厚度、多層鎳厚度和電位差、合金鍍、塑料上各種電鍍金屬,表面光滑,最少有3mm2的平坦測試面
常用測試標準:ASTM B764-04(2009)、ASTM B504-90(2011)、GB/T 4955-2005、ISO 2177-2003
金相法
測量范圍:1-100um
精度:0.1um
適用范圍:對樣品尺寸沒有太大的要求
常用測試標準:GB/T 6462-2005、ASTM B487-1985(R2013)、ISO 1463-2003、EN ISO 1463-2004、JIS H8501-1999、AS 2331.1.1-2001
渦流測量法
測量范圍:0.5-200um
精度:0.1um
適用范圍:可測量樣品涂、鍍層的厚度,樣品要求表面平整,測試面相當平,誤差就小
常用測試標準:GB/T 4957-2003、ASTM D7091-13
X射線熒光XRF
精度:0.01um
適用范圍:屬于無損測量,對樣品沒太大要求
常用測試標準:GB/T 16921-2005、ISO 3497-2000、DIN EN ISO 3497-2001、ASTM B568-1998(R2014)、ASTM A754-2011、JIS H8501-1999
鍍層成分分析和樣品表面污點分析
設備名稱:電子探針和光電子能譜儀聯用分析
測量精度:0.001%
適用范圍:金屬及其非金屬表面涂、鍍層的成分分析,表面污點、異物分析
采用精密分析設備電子探針,對各層成分金相分析,取樣方式為切面法,對各層金相高倍放大進行點和面的分析,最薄的覆蓋層厚度可以到0.1um,優點是其分析精度高,采樣直接有代表性。
光電子能譜儀儀和電子探針聯合運用,還可以對樣品表面的點分析和面分析,對比分析可以知道材料表面污染造成的原因。
SGS提供以上測試服務。
SGS provides
testing services mentioned above.
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