webinar：AFM在二維材料研究中的應用

　　【講座內容】
　　大尺寸高質量的其他二維晶體不僅對于探索二維極限下新的物理現象和性能非常重要，而且在電子、光電子等領域具有諸多新奇的應用。原子力顯微鏡(AFM)一直被廣泛用于二維材料的形態和厚度表征。
　　由布魯克公司獨有的專利PeakForce tapping技術支撐，AFM不僅可以獲得二維材料的原子分辨率的圖像,也可以同時映射出多維物理屬性,包括機械性能(模量、附著力和變形等)和電學性質(表面電位、導電性和壓電響應等)。強大的AFM-Raman或AFM-IR技術，結合PeakForce QNM，能夠更完善和定量描述二維材料。本次網絡講座將為大家介紹AFM在二維材料應用研究上的最新進展。
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　　講座時間：2016年7月21日 上午 10:00
　　主講人：陳葦綱，布魯克(北京)科技有限公司應用科學家。2013年加入布魯克公司任上海實驗室的技術支持，主要負責原子力顯微鏡在材料，物理，生物及化學等各個研究領域的應用。
　　講座結束后，我們將從注冊并準時參會者中抽取4名幸運獎，贈送價值50元的京東禮品卡！