ZH
EN
KR
JP
ES
DE

ПЭМ и дифракция электронов

ПЭМ и дифракция электронов, Всего: 19 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к ПЭМ и дифракция электронов, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Метрология и измерения в целом.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ПЭМ и дифракция электронов

• GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
• GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

British Standards Institution (BSI), ПЭМ и дифракция электронов

• BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
• 24/30479937 DC BS ISO 25498 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

International Organization for Standardization (ISO), ПЭМ и дифракция электронов

• ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/DIS 25498:2024 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

GSO, ПЭМ и дифракция электронов

• BH GSO ISO 25498:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• OS GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• GSO ISO 25498:2015 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Professional Standard - Education, ПЭМ и дифракция электронов

• JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Machinery, ПЭМ и дифракция электронов

• JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, ПЭМ и дифракция электронов

• JJG(地質) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
• JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Group Standards of the People's Republic of China, ПЭМ и дифракция электронов

• T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

Другие:   ТЕМ и СЭМ, СЭМ и ТЭМ, Электронная дифракция ПЭМ, Дифракция вторичных электронов ПЭМ, Электронная дифракция и электронная микроскопия, ТЕМ и, Дифракция электронов для просвечивающей электронной микроскопии, ПЭМ и дифракция электронов, Электронная дифракция ПЭМ, Как анализировать дифракцию электронов с помощью просвечивающего электронного микроскопа, Как анализировать дифракцию электронов в просвечивающем электронном микроскопе, ПЭМ-электронная дифракция, Электронно-дифракционный анализ ПЭМ, Дифракция электронов низких энергий и дифракция электронов высоких энергий, Электронная дифракция и просвечивающая электронная микроскопия, Просвечивающая электронная микроскопия и электронография, электронограмма ПЭМ, Электронная трансмиссия и электронная дифракция, Рассеяние электронов и дифракция электронов, Дифракция электронов и дифракция электронов.