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デュアル統合溫度トランスミッタ

デュアル統合溫度トランスミッタは全部で 13 項標準に関連している。

デュアル統合溫度トランスミッタ 國際標準分類において、これらの分類：半導體ディスクリートデバイス。

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, デュアル統合溫度トランスミッタ

• JJG(石油) 31-1994 統合された溫度トランスミッターの校正手順

Danish Standards Foundation, デュアル統合溫度トランスミッタ

• DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 半導體デバイスの機械的?気候的試験方法 第11回 急速溫度変化二流體浴法
• DS/EN 60749-11/Corr.1:2003 半導體デバイスの機械的?気候的試験方法 第11回 急速溫度変化二流體浴法
• DS/EN 60749-11:2003 半導體デバイスの機械的?気候的試験方法 第11回 急速溫度変化二流體浴法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), デュアル統合溫度トランスミッタ

• KS C IEC 60749-11:2020 半導體デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 11 部: 急激な溫度変化 - 二流體浴法
• KS C IEC 60749-11:2002 半導體デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な溫度変化 二液電気めっき浴法

KR-KS, デュアル統合溫度トランスミッタ

• KS C IEC 60749-11-2020 半導體デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 11 部: 急激な溫度変化 - 二流體浴法

AENOR, デュアル統合溫度トランスミッタ

• UNE-EN 60749-11:2003 半導體デバイスの機械的?気候的試験方法 第11回 急激な溫度変化 二流體浴法

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, デュアル統合溫度トランスミッタ

• GB/T 4937.11-2018 半導體デバイスの機械的?気候的試験方法 第11回 急速溫度変化二槽法

Lithuanian Standards Office , デュアル統合溫度トランスミッタ

• LST EN 60749-11-2003 半導體デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 11: 急速な溫度変化を伴う二流體浴法 (IEC 60749-11:2002)

International Electrotechnical Commission (IEC), デュアル統合溫度トランスミッタ

• IEC 60749-11:2002 半導體デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な溫度変化 二液電気めっき浴法
• IEC 60749-11:2002/COR2:2003 半導體デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な溫度変化 二液電気めっき浴法
• IEC 60749-11:2002/COR1:2003 半導體デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な溫度変化 二液電気めっき浴法

その他：   デュアル統合溫度トランスミッタ.