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    cristalinidad de difracción x

    cristalinidad de difracción x, Total: 98 artículos.

    En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en cristalinidad de difracción x son: Plástica, Productos de la industria química., químicos inorgánicos, Química analítica, Educación, Vocabularios, Pruebas no destructivas, pruebas de metales, Calidad del agua, Combustibles, producción de metales, Cerámica, Materiales para el refuerzo de composites., óptica y medidas ópticas., Componentes de tuberías y tuberías., Ingredientes de pintura.


    工業和信息化部, cristalinidad de difracción x

    • SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.

    GSO, cristalinidad de difracción x

    • NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X
    • NB/SH/T 0971-2018 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo
    • NB/SH/T 0972-2018 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo

    Professional Standard - Energy, cristalinidad de difracción x

    • NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5
    • NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
    • NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
    • NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

    Professional Standard - Non-ferrous Metal, cristalinidad de difracción x

    • YS/T 785-2012 Determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X.

    General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, cristalinidad de difracción x

    • GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
    • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
    • GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X

    American Society for Testing and Materials (ASTM), cristalinidad de difracción x

    • ASTM D5357-03(2008)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5357-98 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D8352-20 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita beta mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5357-03(2013) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5357-19 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5357-03 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5758-01(2021) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5758-01(2015) Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
    • ASTM RR-D32-1036 1993 D5357-Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita sódica A mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5758-01(2011)e1 Método de prueba estándar para la determinación de la cristalinidad relativa de la zeolita ZSM-5 mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5187-91(1997) Método de prueba estándar para la determinación del tama?o de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
    • ASTM D934-80(2003) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5187-91(2002) Método de prueba estándar para la determinación del tama?o de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5187-91(2007) Método de prueba estándar para la determinación del tama?o de los cristalitos (LC de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X)
    • ASTM D934-08 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
    • ASTM D934-80(1999) Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5187-10(2015)e1 Método de prueba estándar para la determinación del tama?o de cristalitos (Lc) de coque de petróleo calcinado mediante difracción de rayos X
    • ASTM D934-22 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
    • ASTM D934-13 Prácticas estándar para la identificación de compuestos cristalinos en depósitos formados en agua mediante difracción de rayos X
    • ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
    • ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X

    National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, cristalinidad de difracción x

    • JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
    • JJG(地質) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
    • JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

    Professional Standard - Education, cristalinidad de difracción x

    • JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
    • JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
    • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
    • JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

    Association Francaise de Normalisation, cristalinidad de difracción x

    • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
    • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
    • NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
    • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
    • NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
    • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
    • NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos

    British Standards Institution (BSI), cristalinidad de difracción x

    • BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
    • BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
    • BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
    • BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
    • BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
    • BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
    • BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
    • 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

    International Organization for Standardization (ISO), cristalinidad de difracción x

    • ISO/TS 23361:2024 Nanotecnologías — Cristalinidad de nanomateriales de celulosa mediante difracción de rayos X en polvo (análisis de Rietveld)
    • ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

    中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, cristalinidad de difracción x

    • GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

    Japanese Industrial Standards Committee (JISC), cristalinidad de difracción x

    • JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

    Professional Standard - Nuclear Industry, cristalinidad de difracción x

    • EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

    Danish Standards Foundation, cristalinidad de difracción x

    • DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
    • DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
    • DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

    國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, cristalinidad de difracción x

    • GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

    SCC, cristalinidad de difracción x

    • NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
    • NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.
    • NS-EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos. Terminología. Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
    • DANSK DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
    • AENOR UNE-EN 1330-11:2008 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
    • NS-EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X a partir de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.
    • AENOR UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
    • DANSK DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

    European Committee for Standardization (CEN), cristalinidad de difracción x

    • EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

    German Institute for Standardization, cristalinidad de difracción x

    • DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
    • DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
    • DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
    • DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
    • DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
    • DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003

    Lithuanian Standards Office , cristalinidad de difracción x

    • LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
    • LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • LST EN 1330-11-2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
    • LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

    Spanish Association for Standardization (UNE), cristalinidad de difracción x

    • UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
    • UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
    • UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

    Group Standards of the People's Republic of China, cristalinidad de difracción x

    Professional Standard - Machinery, cristalinidad de difracción x

    Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, cristalinidad de difracción x

    • DB35/T 1914-2020 Determinación del contenido de cristales β en tuberías y accesorios de polipropileno con cristales β (método de difracción de rayos X)

    Professional Standard - Agriculture, cristalinidad de difracción x

    PT-IPQ, cristalinidad de difracción x

    Korean Agency for Technology and Standards (KATS), cristalinidad de difracción x

    • KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.




    ?2007-2024 Reservados todos los derechos.

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