光譜條件
本專題涉及光譜條件的標準有35條。
國際標準分類中，光譜條件涉及到攝影技術、太陽能工程、陶瓷、廢物、輻射測量、金屬材料試驗、光纖通信、光學和光學測量、地質學、氣象學、水文學、電工和電子試驗、光電子學、激光設備。
在中國標準分類中，光譜條件涉及到電影與攝影技術、感光材料基礎標準與通用方法、太陽能、感光材料、特種陶瓷、放射性物質與放射強度分析測試方法、放射性三廢處理、光通信設備。
國家質檢總局，關于光譜條件的標準
- GB/T 11501-2008 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- GB/T 17683.1-1999 太陽能 在地面不同接收條件下的太陽光譜輻照度標準 第1部分;大氣質量1.5的法向直接日射輻照度和半球向日射輻照度
- GB/T 11501-1989 攝影密度測量的光譜條件
國際標準化組織，關于光譜條件的標準
- ISO 23738:2021 精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業陶瓷）.潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜反射率的測量方法
- ISO 17861-2014 精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法
- ISO 17861:2014 精細陶瓷（先進陶瓷 先進技術陶瓷） - 潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量方法
- ISO 5-3-2009 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- ISO 5-3:2009 攝影和圖形技術——密度測量第3部分:光譜條件
- ISO 14850-1-2004 核能.廢棄物包裝件的活性測量.第1部分:帶公開幾何條件的整體模型中的高分辨率γ光譜測定法
- ISO 5-3:1995 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- ISO 5-3-1995 攝影 密度測量 第3部分:光譜條件
- ISO 9845-1:1992 太陽能——不同接收條件下地面參考太陽光譜輻照度SPART 1:氣團1,5的直接法向和半球形太陽輻照度
- ISO 9845-1-1992 太陽能 地面不同接收條件下的日射光譜輻照度 第1部分:大氣質量1.5的法向直接日射和半球向日射輻照度
- ISO 5-3:1984 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- ISO 5-3-1984 攝影技術.密度測量.第3部分:光譜條件
，關于光譜條件的標準
- GOST 21195-1984 高強度光輻射氣體放電光譜源.一般技術條件
日本工業標準調查會，關于光譜條件的標準
- JIS R1698-2015 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜反射率的測量
- JIS R1694-2012 潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量
- JIS R1694-2012 潮濕條件下精細陶瓷薄膜的光譜透射率測量
- JIS K7653-1988 攝影術.密度測定.第3部分:光譜條件
英國標準學會，關于光譜條件的標準
- BS ISO 17861-2014 精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法
- BS ISO 17861-2014 精細陶瓷(高級陶瓷, 高級工業陶瓷). 在潮濕條件下精細陶瓷薄膜光譜透射率的測量方法
- BS ISO 5-3-2009 攝影和印刷技術.密度測量.光譜條件
- BS ISO 14850-1-2004 核能.廢棄物包裝件的活性測量.帶公開幾何條件的整體模型中的高分辨率γ光譜測定法
- BS ISO 5-3-1996 攝影技術.密度測量.第3部分:光譜條件
韓國標準，關于光譜條件的標準
- KS A ISO 5-3-2011 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- KS A ISO 5-3-2011 攝影.密度測量.第3部分:光譜條件
- KS B ISO 9845-1-2003 太陽能.地面不同接收條件下標準太陽光譜輻射.第1部分:空氣質量1.5直接垂直標準和半球狀太陽輻射
歐洲標準化委員會，關于光譜條件的標準
- EN 10276-2-2003 鋼鐵材料的化學分析.鋼和鐵中氧的測定.第2部分:在惰性氣體條件下熔融后用紅外光譜法測定
美國國家標準學會，關于光譜條件的標準
- ANSI/TIA/EIA 455-50B-1998 長距離分級指數光纖光譜衰減度測量的光發射條件
德國標準化學會，關于光譜條件的標準
- DIN 4512-9-1993 照相感光度測量技術.光密度的測定.光譜條件
臺灣地方標準，關于光譜條件的標準
- CNS 11993-1987 光纖裝置檢驗法（長距離斜射率光纖光譜衰減測量之光投射條件ＦＯＴＰ–５０）
可能用到的儀器設備
