電子顯微鏡與測量
本專題涉及電子顯微鏡與測量的標準有38條。
國際標準分類中，電子顯微鏡與測量涉及到表面處理和鍍涂、長度和角度測量、光學設備、分析化學、空氣質量。
在中國標準分類中，電子顯微鏡與測量涉及到物質成份分析儀器與環境監測儀器、材料防護、稀有金屬及其合金分析方法、金屬化學分析方法綜合、基礎標準與通用方法。
國際標準化組織，關于電子顯微鏡與測量的標準
- ISO 9220-2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- ISO 19749:2021 納米技術 - 掃描電子顯微鏡測量粒度和形狀分布
- ISO/TS 21383:2021 用于定量測量的掃描電子顯微鏡鑒定
- ISO 9220-1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
美國材料與試驗協會，關于電子顯微鏡與測量的標準
- ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標準試驗方法
- ASTM B748-90(2016) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-90(2010) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-90(2006) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-90(2001) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-90(1997) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法
- ASTM B748-1990(1997) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
- ASTM B748-1990(2010) 掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標準試驗方法
- ASTM B748-1990(2016) 通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗方法
- ASTM B748-1990(2006) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
- ASTM B748-1990(2001) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
，關于電子顯微鏡與測量的標準
- SIS SS-ISO 9220-1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
法國標準化協會，關于電子顯微鏡與測量的標準
- NF T16-404-2020 納米技術. 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布
- NF A91-108-1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
韓國標準，關于電子顯微鏡與測量的標準
- KS D ISO 9220-2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 9220-2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- KS D 2716-2008 納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
- KS D 8544-2006 金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法
日本工業標準調查會，關于電子顯微鏡與測量的標準
- JIS K3850-3-2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法
- JIS K3850-1-2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K3850-2-2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法
歐洲標準化委員會，關于電子顯微鏡與測量的標準
- EN ISO 9220-1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
英國標準學會，關于電子顯微鏡與測量的標準
- BS EN ISO 9220-1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
