x-射線 能譜儀
本專題涉及x-射線 能譜儀的標準有13條。
國際標準分類中，x-射線 能譜儀涉及到分析化學、輻射測量、核能工程。
在中國標準分類中，x-射線 能譜儀涉及到電子光學與其他物理光學儀器、通用核儀器、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯用裝置、核儀器與核探測器綜合、基礎標準與通用方法。
國家質檢總局，關于x-射線 能譜儀的標準
- GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則
- GB/T 11685-2003 半導體X射線探測器系統和半導體X射線能譜儀的測量方法
- GB/T 20726-2015 微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法
韓國科技標準局，關于x-射線 能譜儀的標準
- KS C IEC 60759:2009 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序
- KS C IEC 60759-2019 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半導體X射線能譜儀的標準測試程序
GSO，關于x-射線 能譜儀的標準
- GSO IEC 60759:2015 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
- OS GSO IEC 60759:2015 半導體 X 射線能譜儀的標準測試程序
CZ-CSN，關于x-射線 能譜儀的標準
- CSN 35 6575 Z1-1997 半導體X射線能譜儀的標準測試程序
國際電工委員會，關于x-射線 能譜儀的標準
- IEC 60759:1983 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 半導體X射線能譜儀的標準試驗程序 修改1
SE-SIS，關于x-射線 能譜儀的標準
- SIS SS IEC 759:1986 核檢測儀表．半導體X射線能譜儀檢測程序
美國電氣電子工程師學會，關于x-射線 能譜儀的標準
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半導體 X 射線能譜儀的 IEEE 標準測試程序
