在推薦電壓范圍的低端運行激光模塊也將有助于延長激光的壽命。 激光發散角指定光束在一定距離內的散布量。我們所有的光束發散規格均為全角度值。電磁束的束發散度是束直徑或半徑隨距發出電磁束的光學孔徑或天線孔徑的距離而增加的角度度量。該術語僅在“遠場”中有用，遠離光束的任何焦點。然而，實際上，取決于孔徑直徑和工作波長，遠場可以在物理上接近輻射孔徑開始。 ...
為了獲得更廣泛的應用和更精確的結果，未來 XFEL的技術突破將集中在這些方面： (1)提高激光束流能量，同時盡可能降低輻射損傷，提高單顆粒散射的分辨率極限； (2)控制樣品均一性。生物樣品具有一定的柔性，這是其實現功能的基礎，但是也為數據分析造成了一定困難。...
掃描電鏡的物鏡和掃描線圈都是通過電磁場控制的，磁性樣品有磁場存在，會造成磁場疊加，疊加的磁場可能不均勻，使得物鏡磁場偏離軸心對稱，導致束斑變形，造成象散。疊加的磁場影響掃描線圈的交變磁場，影響掃描區域的大小，造成放大倍數不準。解決方案象散矯正所有掃描電鏡都會提供調整象散的功能。一般情況下，掃描電鏡可以存儲大多數樣品有效的標準值，但部分設備要求用戶每次都要調整象散。...
?? ?正聚焦離子束(focused ion beam,簡寫FIB)是一個微納加工和觀察分析設備。在強電場下金屬離子溢出液態離子源,形成束流,經光圈限束、加速、聚焦、象散校正、偏轉,打到樣品指定點上。利用其濺射效應,FIB可用于樣品表面亞微米尺寸的刻蝕,控制其掃描路徑可以在無掩模下刻蝕任意正聚焦離子束(focused ion beam,簡寫FIB)是一個微納加工和觀察分析設備。...
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