DIN IEC/TS 62132-9:2015
集成電路.電磁抗干擾測量.第9部分:輻射抗擾度測量.表面掃描法 (IEC/TS 62132-9-2014)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC/TS 62132-9:2014)
- 標準號
- DIN IEC/TS 62132-9:2015
- 發布
- 2015年
- 發布單位
- 德國標準化學會
- 當前最新
- DIN IEC/TS 62132-9:2015
- 引用標準
- DIN EN 62132-1:2006 DIN IEC/TS 61967-3:2015 IEC 60050-101:1998 IEC 60050-102:2007 IEC 60050-103:2009 IEC 60050-111 AMD 1:2005 IEC 60050-111:1996 IEC 60050-112:2010 IEC 60050-113 AMD 1-2 IEC 60050-113 Corrigendum 1:2011 IEC 60050-113:2011 IEC 60050-55:1970
- 被代替標準
- DIN IEC/TS 62132-9:2012
DIN IEC/TS 62132-9:2015相似標準
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IEC 47A/898/CD:2013 IEC/TS 62132-9, Ed1 集成電路,電磁抗擾度的測量 第9部分 輻射抗擾度的測量 表面掃描法
IEC 47A/887/CD:2012 IEC/TS 62132-9, 版本1:基礎電路.電磁抗干擾測量.第9部分:輻射抗擾度測量.表面掃描法
IEC 47A/903/CD:2013 IEC/TS 62132-9,版本1:集成電路電磁抗擾性的測量.第9部分:輻射抗干擾性的測量.表面掃描法
IEC 47A/924/DTS:2014 IEC/TS 62132-9, Ed. 1:集成電路.電磁抗擾性的測量.第9部分:輻射抗擾性的測量.表面掃描法