GB/T 4377-2018
半導體集成電路 電壓調整器測試方法
Semiconductor integrated circuits.Measuring method of voltage regulators
GBT4377-2018, GB4377-2018
GB/T 4377-2018 發布歷史
本標準規定了電壓調整器(以下稱為器件)參數測試方法。 本標準適用于半導體集成電路領域中電壓調整器參數的測試。
GB/T 4377-2018由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2018-03-15，并于 2018-08-01 實施。
GB/T 4377-2018 在中國標準分類中歸屬于: L56 半導體集成電路，在國際標準分類中歸屬于: 31.200 集成電路、微電子學。
GB/T 4377-2018的歷代版本如下：
- 2018年 GB/T 4377-2018 半導體集成電路 電壓調整器測試方法
- 1996年 GB/T 4377-1996 半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
- 0000年 GB 4377-1984
- 標準號
- GB/T 4377-2018
- 別名
- GBT4377-2018
GB4377-2018 - 發布
- 2018年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 4377-2018
- 被代替標準
- GB/T 4377-1996
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