IEC 62321-4:2017
電工制品中特定物質的測定.第4部分:通過CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS
2017-07
- 標準號
- IEC 62321-4:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 替代標準
- IEC 62321-4:2013/AMD1:2017
- 當前最新
- IEC 62321-4:2013/AMD1:2017
- 引用標準
- IEC 62321-1:2013 IEC 62321-2:2013 IEC 62321-3-1:2013 IEC 62554:2011 ISO 3696:1987
- 適用范圍
- IEC 62321 的這一部分描述了通過 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 對聚合物、金屬和電子產品中的汞進行測試的方法。本標準規定了電工產品中汞（Hg）含量的測定。這些材料是聚合物、金屬和電子產品（例如印刷線路板、冷陰極熒光燈、水銀開關）。含汞電池應按照 [1]1 中的描述進行處理。實驗室間研究僅評估了這些塑料測試方法，未涵蓋其他基質。本標準將樣品作為待處理和測量的對象。樣本是什么或如何獲取樣本由進行測試的實體定義。有關從成品電子產品中獲取代表性樣品以測試受管制物質含量的進一步指導，請參見 IEC 62321-2。需要注意的是，樣本的選擇和/或確定可能會影響測試結果的解釋。本標準描述了四種方法的使用，即CV-AAS（冷蒸氣原子吸收光譜法）、CV-AFS（冷蒸氣原子熒光光譜法）、ICP-OES（電感耦合等離子體發射光譜法）和ICP-MS（電感耦合等離子體發射光譜法）。等離子體質譜法）以及制備樣品溶液的幾種程序，專家可以從中選擇最合適的分析方法。通過 CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 進行分析，可以高精度（低百分比范圍內的不確定性）和/或高靈敏度（低至 μg/千克級）。本標準中描述的測試程序旨在為 4 mg/kg 至 1000 mg/kg 范圍內的汞濃度提供最高水平的準確度和精密度。該程序不限于更高濃度。對于直接分析，使用熱分解-金汞齊結合 CV-AAS (TD(G
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