IEC 61745:2017
光學纖維幾何參數測量裝置校準端面影像分析程序
End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
- 標準號
- IEC 61745:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 61745:2017
- 被代替標準
- IEC 86/510/CDV:2017 IEC 61745:1998
- 適用范圍
- 本文檔描述了執行端面圖像分析（也稱為“近場”或“灰度”分析）的測試裝置的校準。然而，這些原理可以應用于不同類型的測試集。概述的程序由校準實驗室和幾何測試裝置的制造商或用戶執行，目的是校準幾何測試裝置和評估在校準測試裝置上進行的測量的不確定性。本文件不包括光纖涂層或光纜測量測試裝置的校準。