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    • JGJ/T 84-2015
    巖土工程勘察術語標準

    Standard for terminology of geotechnical investigation

    JGJ/T 84-2015 中，可能用到以下儀器設備

     

    HE53 鹵素水分測定儀

    HE53 鹵素水分測定儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    快速水份測定儀HS153

    快速水份測定儀HS153

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    HC103水分測定儀

    HC103水分測定儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    HE83 水分測定儀

    HE83 水分測定儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    HG63鹵素水分測定儀

    HG63鹵素水分測定儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    快速鹵素水分儀

    快速鹵素水分儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    卡爾費休水分儀

    卡爾費休水分儀

    梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

     

    Gemini? 分析儀

    Gemini? 分析儀

    賽默飛世爾科技便攜式儀器

     

    Spectrum Two紅外光譜儀

    Spectrum Two紅外光譜儀

    珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司PerkinElmer

     

    紅外水份測定儀MA35

    紅外水份測定儀MA35

    德國賽多利斯集團

     

    Spectrum 65 傅里葉紅外光譜儀

    Spectrum 65 傅里葉紅外光譜儀

    珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司PerkinElmer

     

    MA35賽多利斯紅外水分測定儀

    MA35賽多利斯紅外水分測定儀

    德國賽多利斯集團

     

    Nicolet iS20傅立葉變換紅外光譜儀

    Nicolet iS20傅立葉變換紅外光譜儀

    賽默飛分子光譜儀器

     

    Spectrum 3?傅立葉變換紅外光譜儀

    Spectrum 3?傅立葉變換紅外光譜儀

    珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司PerkinElmer

     

    VERTEX 70紅外光譜儀

    VERTEX 70紅外光譜儀

    布魯克光譜儀器公司(BRUKER OPTICS)

     

    TENSOR 27/37型TENSOR系列紅外光譜儀

    TENSOR 27/37型TENSOR系列紅外光譜儀

    布魯克光譜儀器公司(BRUKER OPTICS)

     

    日本電子JSM-6510系列掃描電子顯微鏡

    日本電子JSM-6510系列掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    FEI Quanta x50 FEG場發射環境掃描電鏡

    FEI Quanta x50 FEG場發射環境掃描電鏡

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子6700F高分辨掃描電子顯微鏡

    日本電子6700F高分辨掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    PGSTAT 128N電化學工作站

    PGSTAT 128N電化學工作站

    瑞士萬通中國有限公司--實驗室分析儀器

     

    布魯克VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

    布魯克VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

    布魯克光譜儀器公司(BRUKER OPTICS)

     

    傅立葉紅外光譜儀

    傅立葉紅外光譜儀

    北京魯美科思儀器設備有限公司

     

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    日本電子JASM-6200 ClairScope 大氣壓掃描電子顯微鏡

    日本電子JASM-6200 ClairScope 大氣壓掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JCM-6000plus NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡

    日本電子JCM-6000plus NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    日本電子JSM-7200F掃描電子顯微鏡

    日本電子JSM-7200F掃描電子顯微鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    大氣壓掃描電鏡

    大氣壓掃描電鏡

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    聚焦離子束系統

    聚焦離子束系統

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    ULTRA 結構分析用場發射掃描電子顯微鏡

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    過程控制用微粒分析工具/掃描電鏡SEM

    北京歐波同光學儀器有限公司/歐波同/OPTON

     

    Quanta SEM

    Quanta SEM

    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    軟X射線分光譜儀

    軟X射線分光譜儀

    日本電子株式會社(JEOL)

     

    大面積電制冷能譜儀

    大面積電制冷能譜儀

    牛津儀器（上海）有限公司

     

    鹵素水分測定儀

    鹵素水分測定儀

    上海舜宇恒平科學儀器有限公司

     

    RC-612表面碳水分析儀

    RC-612表面碳水分析儀

    美國力可公司

     

    漫反射標準板WR-D97-30/WR-D97-30-STD

    漫反射標準板WR-D97-30/WR-D97-30-STD

    上海如海光電科技有限公司

     

    工業級浸入式光譜吸收探頭

    工業級浸入式光譜吸收探頭

    海洋光學亞洲公司

     

    光纖準直器

    光纖準直器

    海洋光學亞洲公司

     

    反射測量參考白板

    反射測量參考白板

    海洋光學亞洲公司

     

    傅立葉紅外光譜儀模塊

    傅立葉紅外光譜儀模塊

    海洋光學亞洲公司

     

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司ULTRA 55掃描電子顯微鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    VSP多通道恒電位儀

    VSP多通道恒電位儀

    DT/儀思奇（北京）科技發展有限公司

     

    SP-300型研究級單通道恒電位儀

    SP-300型研究級單通道恒電位儀

    DT/儀思奇（北京）科技發展有限公司

     

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司SIGMA 500/VP高分辨率場發射掃描電鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506掃描電子顯微鏡

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    聚焦離子束系統

    聚焦離子束系統

    蔡司光學儀器(上海)國際貿易有限公司

     

    JGJ/T 84-2015

    標準號
    JGJ/T 84-2015
    發布日期
    2015年01月09日
    實施日期
    2015年09月01日
    廢止日期
    無
    中國標準分類號
    P
    發布單位
    CN-JG
    適用范圍
    本標準適用于巖土工程勘察及其相關的工程、科研和教學領域。

    JGJ/T 84-2015 中可能用到的儀器設備

    掃描電鏡SEM 光度儀、霧度儀、光澤度儀 干燥失重法(紅外線/鹵素)水分儀 激光誘導擊穿光譜LIBS 紅外光譜儀 光學儀器組件 比色計 電化學工作站 電鏡附件及外設 導熱儀、熱導儀 介電常數測定儀 其他試驗機 動態熱機械分析儀（DMA/TMA/DMTA） 比表面積儀/動態法 摩擦磨損試驗機 氧指數測定儀 表面張力儀（界面張力儀） 密度計、密度儀 建筑材料無損檢測儀器/設備 流變儀 化學吸附儀 疲勞試驗機 組織處理儀 電熱消解儀/消化爐 化學合成儀 天平臺/天平罩 濃縮儀 微波合成裝置 旋轉蒸發儀 PCR儀 分子雜交儀/雜交爐/雜交箱 紫外分析儀/紫外檢測儀/紫外透射儀 基因導入儀/電穿孔儀 動物處理設備 PM2.5/PM10/PM1/TSP環境大氣顆粒物監測儀 空氣質量自動監測系統 摩擦系數測試儀、剝離系數試驗儀 織物類測試儀器 易燃固體檢測 其他物性分析儀/測定儀 天平/電子天平/分析天平


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