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KS C 6049-1980
半導體集成電路試驗法和耐久性能試驗方法

Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits

被代替

2020-01

KS C 6049-1980 發布歷史

KS C 6049-1980由韓國科技標準局 KR-KATS 發布于 1980-11-29，并于 1980-11-29 實施。

KS C 6049-1980 在中國標準分類中歸屬于: K46 電力半導體器件、部件。

KS C 6049-1980 半導體集成電路試驗法和耐久性能試驗方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 KS C 6049-2020 。

KS C 6049-1980的歷代版本如下：

2020年 KS C 6049-2020 半導體集成電路的環境測試方法和耐久性測試方法
1980年 KS C 6049-1980 半導體集成電路試驗法和耐久性能試驗方法

該標準主要涵蓋工業和消費電子設備中使用的集成電路（不包括混合集成電路）。

標準號: KS C 6049-1980
發布: 1980年
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS C 6049-2020
當前最新: KS C 6049-2020

KS C 6049-1980相似標準

KS C 6049-1980(2020) 環境試驗方法和耐久性試驗方法半導體集成電路 JIS C 7022:1979 半導體集成電路的環境和耐久性試驗方法 KS C 6049-2020 半導體集成電路的環境測試方法和耐久性測試方法 SJ/T 10745-1996 半導體集成電路機械和氣候試驗方法 GB/T 9425-1988 半導體集成電路運算放大器空白詳細規范(可供認證用)

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