X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。? 隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。...
(CV-AFS).德文版本CEN/TS 16175-2-2013 DIN ISO 16772-2005 土質.用冷蒸氣原子光譜法或冷蒸氣原子熒光光譜法測定水域土壤提取物中的汞 歐洲標準化委員會,關于土壤 有機汞的標準 EN 16175-1-2016 污泥,處理的生物廢物和土壤-汞的測定-第1部分:冷蒸氣原子吸收光譜法(CV-AAS) EN 16175-2-2016 污泥,處理的生物廢物和土壤...
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