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KS D ISO 18118:2005
表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南

Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

被代替

2020-01

標準號: KS D ISO 18118:2005
發布: 2005年
總頁數: 26頁
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS D ISO 18118-2020
當前最新: KS D ISO 18118-2020

適用范圍: 本標準描述了使用俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測定均質材料。

專題

俄歇靈敏度因子俄歇+ 靈敏度因子俄歇相對靈敏度因子為什么俄歇電子表面敏感

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