在對硬件整體架構安全性進行評估時,需要對硬件整個拓撲結構展開,分析各個元器件或子元器件層級(對MCU而言,為網表,布線)中的:a.故障模式b.故障模式對違背安全目標的影響c.故障模式的故障率和分布(故障率的比例)d.故障模式的安全機制(即對故障的診斷和減輕的手段)e.安全機制的對故障的覆蓋能力其中對于基礎數據的獲得,比如元器件的失效模式和失效率,安全機制的覆蓋能力等,可采用業界公認數據(如來源于IEC...
靈敏度是區別不同儀器的性能和確保采用的校準是否有意義的重要指標;光譜分辨率是確保數據收集和校準時被分析物和干擾譜線能被正確的區分并處理的重要指標;檢出限即為三倍空白重復測試的標準偏差(不少于7次測量,置信區間為95%);適用的面積大小決定了實際的待測試部分是什么;樣品制備及測試的可重現性是證明測試方法可控的一個重要參數。 ...
靈敏度是區別不同儀器的性能和確保采用的校準是否有意義的重要指標;光譜分辨率是確保數據收集和校準時被分析物和干擾譜線能被正確的區分并處理的重要指標;檢出限即為三倍空白重復測試的標準偏差(不少于7次測量,置信區間為95%);適用的面積大小決定了實際的待測試部分是什么;樣品制備及測試的可重現性是證明測試方法可控的一個重要參數。...
靈敏度是區別不同儀器的性能和確保采用的校準是否有意義的重要指標;光譜分辨率是確保數據收集和校準時被分析物和干擾譜線能被正確的區分并處理的重要指標;檢出限即為三倍空白重復測試的標準偏差(不少于7次測量,置信區間為95%);適用的面積大小決定了實際的待測試部分是什么;樣品制備及測試的可重現性是證明測試方法可控的一個重要參數。 ...
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