?Nicomp?380?DLS動態光散射粒度分析儀是納米粒徑分析儀器，采用現在先進的動態光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很準確的分析比較復雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供的分析技術。?測試范圍：0.3?nm?–?6μm。??Nicomp?380?DLS動態光散射粒度分析儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍?0.3?nm-?6μm。...
新品發布Litesizer DLS?系列是安東帕公司的動態光散射粒度/Zeta 電位分析儀產品，用于表征從納米到微米粒子的粒度、粒度分布、Zeta 電位、分子量、粒子濃度、透光率等特性，具有適用濃度范圍寬、一鍵操作完成測試、功能全面等優點。...
這兩項參數均由系統根據動態光散射國際標準ISO22412計算得出。??關于動態光散射? ??納米粒子的開發和配方需要對整個樣本進行快速可靠的質量控制分析，而動態光散射提供了滿足這一需求的解決方案。通過具有極高統計學意義的粒度分布圖，DLS技術使用戶能夠快速地識別出聚集體或不合規格顆粒，而如果僅利用基于數量的粒度測量技術則可能無法做到。...
這兩項參數均由系統根據動態光散射國際標準ISO22412計算得出。?關于動態光散射?納米粒子的開發和配方需要對整個樣本進行快速可靠的質量控制分析，而動態光散射提供了滿足這一需求的解決方案。通過具有極高統計學意義的粒度分布圖，DLS技術使用戶能夠快速地識別出聚集體或不合規格顆粒，而如果僅利用基于數量的粒度測量技術則可能無法做到。...
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