IEC 62321-5:2013
電工制品中特定物質的測定.第5部分:通過原子吸收分光光度法(AAS)、原子熒光光譜法(AFS)、電感耦合等離子體發射光譜(ICP-OES)和電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)測定聚合物和電子中鎘、鉛和鉻及金屬中鎘和鉛
Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 5: Determination of cadmium, lead, and chromium in polymers and electronics and cadmium and lead in metals by AAS, AFS, ICP- OES and ICP-MS
IEC 62321-5:2013 中，可能用到以下儀器
- 標準號
- IEC 62321-5:2013
- 發布
- 2013年
- 中文版
- GB/T 39560.5-2021 (等同采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 62321-5:2013
- 被代替標準
- IEC 111/297/FDIS:2013 IEC 62321:2008
- IEC 62321的本部分描述了通過AAS@AFS@ICP-OES和ICP-MS對聚合物@金屬和電子產品中的鉛@鎘和鉻進行測試的方法。本標準規定了電工產品中鎘（Cd）、鉛（Pb）、鉻（Cr）含量的測定。它涵蓋三種類型的矩陣：聚合物/聚合物工件@金屬和合金以及電子產品。本標準將樣品作為待處理和測量的對象。樣本是什么或如何獲取樣本由進行測試的實體定義。有關從成品...
IEC 62321-5:2013相似標準
IEC 62321-5:2013 中可能用到的儀器設備
誰引用了IEC 62321-5:2013 更多引用
GB/T 19208-2020 硫化橡膠粉
DIN EN IEC 62554:2018 測量熒光燈內汞含量的樣品的制備 (IEC 62554-2011+A1-2017); 德文版本 EN 62554-2011+EN IEC 62554-2011/A1-2018
GB/T 33351.1-2016 電子電氣產品中砷、鈹、銻的測定 第1部分：電感耦合等離子體質譜法
BS PD CLC/TS 50625-3-1:2015 廢電器電子產品的收集、物流和處理要求 除污染規范 全體的
BS EN 62321-4:2014 電工技術產品中某些物質的測定. 通過CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法測定聚合物, 金屬和電子中的汞
BS EN 62321-2:2014 電工技術產品中某些物質的測定. 拆卸, 拆分和機械樣品制備