ASTM E1695-95(2013)
計算機斷層掃描 (CT) 系統性能測量的標準試驗方法
Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance
- 標準號
- ASTM E1695-95(2013)
- 發布
- 1995年
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 替代標準
- ASTM E1695-20
- 當前最新
- ASTM E1695-20e1
- 引用標準
- ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1570
- 適用范圍
- 1.1 本測試方法為確定 X 射線和射線計算機斷層掃描 (CT) 圖像的空間分辨率和對比敏感度提供了指導。該確定基于對均勻材料圓盤的 CT 圖像的檢查。空間分辨率測量源自對光盤邊緣清晰度的圖像分析。對比敏感度測量源自對盤中心統計噪聲的圖像分析。 1.2 與其他方法相比，該測試方法更加定量，并且不易解釋，因為所需的圓盤易于制造，并且分析不受拔罐偽影的影響。如果磁盤圖像占據的視野少于大部分，則此測試方法可能不會產生有意義的結果。
1.3 本測試方法也可用于評估其他性能參數。使用此測試方法可檢測到的 CT 系統的特征包括：重建內核的中頻增強、檢測器串擾的存在（或不存在）、視圖欠采樣以及非物理（即，負）CT 編號（參見空軍技術報告 WL-TR-94-40212）。通過這種測試方法很可能也可以檢測到其他特征。 1.4 以 SI 單位表示的值應被視為標準。英寸-磅單位僅供參考。
1.5 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。
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