DS/EN 60749-27/A1-2013

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

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標準號

DS/EN 60749-27/A1-2013

發布日期

2013年01月25日

實施日期

2013年01月25日

廢止日期

無

國際標準分類號

31.080.01

發布單位

DK-DS

適用范圍

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test