<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>

IEEE 1149.1-2013
測試存取口及邊界掃描結構用IEEE標準

IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

標準號: IEEE 1149.1-2013
發布: 2013年
發布單位: 美國電氣電子工程師學會
當前最新: IEEE 1149.1-2013

IEEE 1149.1-2013相似標準

IEEE 1149.1A-1993 測試存取口及邊界掃描結構 IEEE 1149.1-1993 測試存取口及邊界掃描結構 IEEE 1149.1-2001 測試存取口及邊界掃描結構 ANSI/IEEE 1149.1:2001 標準測試存取口及邊界掃描體系結構 SJ/T 10566-1994 可測性總線第一部分：標準測試存取口與邊界掃描結構

推薦

三相繼電保護測試儀技術特點

8）功能強大可完成各種自動化程度高的大型復雜校驗工作，能方便的測試及掃描各種保護定值，進行故障回放，定時存儲測試數據，顯示矢量圖，聯機打印報表等。9）獨立直流電源設有一路大功率110V 及 220V專.用直流電源輸出。10）輕小型一體化結構采用了大量先進技術及元器件材料，并經專業化的結構設計，因而裝置體積小，重量輕，功能全，便于流動試驗。...

誰引用了IEEE 1149.1-2013 更多引用

BS ISO 18257:2016 航天系統. 航天應用的半導體集成電路. 設計要求

Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證：京ICP證110310號

<td id="ccaac"></td>

<table id="ccaac"><rt id="ccaac"></rt></table>