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IEC 60749-26:2013
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第26部分:靜電放電敏感性(ESD)測試.人體模型(HBM)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

被代替

2018-01

半導體器件.機械和氣候試驗方法.第26部分:靜電放電敏感性(ESD)測試.人體模型(HBM), 您可以免費下載預覽頁

標準號: IEC 60749-26:2013
發布: 2013年
發布單位: 國際電工委員會
替代標準: IEC 60749-26:2018
當前最新: IEC 60749-26:2018

引用標準: IEC 60749-27
被代替標準: IEC 47/2160/FDIS:2013 IEC 60749-26:2006

適用范圍: 該標準根據元件和微電路暴露于規定的人體模型 (HBM) 靜電放電 (ESD) 時對損壞或退化的敏感性（敏感性），建立了測試、評估和分類的程序。

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