DS/CEN/TR 10354:2012
黑色金屬材料的化學分析 硅鐵分析 X射線熒光光譜法測定Si和Al
Chemical analysis of ferrous materials - Analysis of ferro-silicon - Determination of Si and Al by X-ray fluorescence spectrometry
DS/CEN/TR 10354:2012 中，可能用到以下儀器設備
- 標準號
- DS/CEN/TR 10354:2012
- 發布
- 2012年
- 發布單位
- 丹麥標準化協會
- 當前最新
- DS/CEN/TR 10354:2012
- 代替標準
- AWS BUNDLE B-2015
本技術報告描述了一種測定硅鐵材料中硅和鋁含量的 X 射線熒光 (XRF) 光譜法。該方法適用于： - Si含量在40%至90%之間； - Al 含量在 0.5 至 6 % 之間。技術報告規定了 X 射線熒光光譜分析和測試樣品制備的一般要求。對所用分析線的光譜干擾進行光譜測量的校正至關重要。本技術報告對以下分析線有效： - Si Kα 7.126（元素含量在 ...