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NF X21-073*NF ISO 16243:2012
表面化學分析.X射線光電子能譜術(XPS)的記錄和報告數據

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).

NF X21-073*NF ISO 16243:2012 中，可能用到以下儀器

PerkinElmer 化學電子實驗記錄本

PerkinElmer 化學電子實驗記錄本

珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司

標準號: NF X21-073*NF ISO 16243:2012
發布: 2012年
發布單位: 法國標準化協會
當前最新: NF X21-073*NF ISO 16243:2012

專題

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