JIS Z 4337:2011
β發射體用安裝物件表面污染監測組件
Installed articles surface contamination monitoring assemblies for beta emitters
JIS Z 4337:2011 發布歷史
JIS Z 4337:2011由日本工業標準調查會 JP-JISC 發布于 2011-11-21。
JIS Z 4337:2011 在中國標準分類中歸屬于: F84 輻射防護儀器，在國際標準分類中歸屬于: 13.280 輻射防護,17.240 輻射測量。
JIS Z 4337:2011 β發射體用安裝物件表面污染監測組件的最新版本是哪一版？
最新版本是 JIS Z 4337:2011 。
JIS Z 4337:2011 發布之時，引用了標準
- JIS Z 4001 核能用術語匯編
- JIS Z 4334 參考源 表面污染監測器的校準 α-、β-和光子發射器*， 2019-02-20 更新
- JIS Z 8103 測量用術語集*， 2019-05-20 更新
* 在 JIS Z 4337:2011 發布之后有更新，請注意新發布標準的變化。
JIS Z 4337:2011的歷代版本如下：
- 2011年 JIS Z 4337:2011 β發射體用安裝物件表面污染監測組件
- 1997年 JIS Z 4337:1997 β發射體用器件表面受放射性污染監測的安裝組件
本日本工業標準規定了用于檢測核素污染的安裝物品表面污染監測組件的 β 發射器（以下簡稱“監測器”），發射最大能量為 0.15 MeV 或以上的 β 射線，用于測量表面從核設施等控制區域進行的物品污染。
| 術語 | 描述 |
|---|---|
| 表面發射率 surface emission rate | 單位時間內從源表面或源窗發射的β粒子數 |
| 最小可探測表面發射率 minimum detectable surface emission rate | 監測器能夠合理探測到的表面發射率的最小限值 |
| 儀器效率 instrument efficiency | 在標準源確定的幾何條件下測量時，探測通道或監測通道的凈計數率與源表面發射率的比值 |
| 響應隨源位置變化 variation of response with source position | 在探測表面恒定距離平面上改變源位置時，儀器效率最大值與最小值的比值 |
| 平均儀器效率 average instrument efficiency | 監測通道整個探測器范圍內儀器效率的平均值，用于計算最小可探測表面發射率 |
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- 標準號
- JIS Z 4337:2011
- 發布
- 2011年
- 總頁數
- 21頁
- 發布單位
- 日本工業標準調查會
- 當前最新
- JIS Z 4337:2011
- 引用標準
- JIS Z 4001 JIS Z 4334 JIS Z 8103
- 被代替標準
- JIS Z 4337:1997
JIS Z 4337:2011 中提到的儀器設備
| β射線探測器 | 用于測量表面污染的輻射探測器 |