靜態二次離子質譜法中相對強度范圍的重復性和穩定性 英國標準學會,關于質譜中相對強度的標準 BS ISO 17862-2013 表面化學分析.次級離子質譜法.單離子計數飛行時間質量分析器強度標的線性 BS ISO 17862-2013 表面化學分析.次級離子質譜法.單離子計數飛行時間質量分析器強度標的線性 BS ISO 23830-2008 表面化學分析.次級離子質譜法.靜態次級離子質譜法中相對強度數值范圍的重復性和穩定性...
屬于這類儀器的有線振質譜計、四極質譜計、單極質譜計和三維四極離子阱。????????3.離子檢測器:通常用直接電測法(法拉第筒)或二次效應電測法(二次電子倍增器)檢測已按質荷比分類的離子流并用電學方法記錄下來。當用改變分析場參數的方法進行“質量掃描”時,就可以得到與被分析氣體成分相對應的質譜圖。?對真空質譜計的基本要求是:(1)探頭具有小的容積和內表面,能烘烤除氣,對待測的真空狀態影響小。...
(2) 飛行時間二次離子質譜法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) 是通過用一次離子激發樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量的極高分辨率的測量技術。?...
(2) 飛行時間二次離子質譜法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是通過用一次離子激發樣品表面,打出極其微量的二次離子,根據二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量的極高分辨率的測量技術。?...
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