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    • EN 15979:2011
    陶瓷原料和基本材料的測試.直流電弧激發發射光譜法直接測定碳化硅粉末和顆粒中雜質質量分數

    Testing of ceramic raw and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by OES by DC arc excitation


    標準號
    EN 15979:2011
    發布
    2011年
    發布單位
    歐洲標準化委員會
    當前最新
    EN 15979:2011
     
     
    代替標準
    SANS 10324-2007
    被代替標準
    FprEN 15979-2010
    適用范圍
    本歐洲標準描述了陶瓷原料和基體的粉狀和粒狀碳化硅中雜質 Al、B、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V 和 Zr 質量分數的分析方法。 該應用還可以擴展到其他金屬元素和其他類似的非金屬粉末和顆粒狀材料，例如碳化物、氮化物、石墨、炭黑、焦炭、碳以及許多進一步氧化的原料和材料。 經過適當測試后的基本材料。 注：對于石墨、B4C、BN、WC 和幾種難熔金屬氧化物等材料存在正干擾。 該測試程序適用于上述雜質的質量分數從大約 1 mg/kg 到大約 3000 mg/kg，核實后。 在某些情況下，根據元素、波長、電弧參數和樣品重量，可以將范圍擴展到 5000 mg/kg。

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