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SN/T 2638.1-2010
進出口錳礦石中錳、鐵、硅、鋁、鈣、鎂、鈦、鉀和磷的測定波長色散X射線熒光光譜法

Determination of manganese,iron,silicon,aluminum,calcium,magnesium,titanium,potassium and phosphorus in manganese ores for import and export.Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method

SNT2638.1-2010, SN2638.1-2010

SN/T 2638.1-2010 中，可能用到以下儀器設備

EDX-GP能量色散型X射線熒光分析裝置

島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

天瑞手持式P330/P530/P730S/P930能量色散分析儀

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EDX3600B X熒光光譜儀

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江蘇天瑞儀器股份有限公司

HD1000型X熒光光譜儀

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NITON XL3t-700手持式RoHS分析儀

賽默飛世爾科技便攜式儀器

Rigaku理學NEX-CG能量色散X熒光分析儀

株式會社理學

手持式XRF光譜儀- 有害元素篩選

牛津儀器（上海）有限公司

科研手持XRF光譜儀 TRACER 5g/手持光譜儀

布魯克光譜儀器公司(BRUKER OPTICS)

X-Supreme8000能量色散X射線熒光光譜儀

日立分析儀器（上海）有限公司

日立EA1000VX X射線熒光分析儀

日立分析儀器（上海）有限公司

RoHS檢測儀

奧林巴斯（中國）有限公司

奧林巴斯 XRF分析儀 GoldXpert

奧林巴斯（中國）有限公司

X射線異物分析裝置 EA8000

日立分析儀器（上海）有限公司

HORIZON 全反射X熒光光譜儀

利曼中國

EDX-6800合金分析儀

深圳市善時儀器有限公司

NITON XL3t-700手持式RoHS分析儀

朗鐸投資控股(北京)有限公司

超越系列XP分析天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

超越系列XS分析天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

梅特勒新經典系列ME天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

梅特勒ME系列千分之一分析天平ME103/ME203/ME303/ME403

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

梅特勒AL 分析天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

島津電子托盤天平UW/UX系列

島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

PL602E梅特勒便攜式電子天平，梅特勒天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

分析天平AUX220

島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

分析天平

梅特勒-托利多中國（Mettler-Toledo）

BT系列準微量、分析、精密天平

德國賽多利斯集團

賽多利斯電子分析天平 ED系列

德國賽多利斯集團

賽多利斯電子天平

德國賽多利斯集團

FA電子分析天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

JA電子精密天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

先行者分析和精密天平

奧豪斯儀器(上海)有限公司

Adventurer? 分析和精密天平

奧豪斯儀器(上海)有限公司

FA系列電子分析天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

YP電子天平（帶風罩）

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

MP電子天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

JY電子天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

大稱量電子天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

天平、電子天平、分析天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

電子天平

上海舜宇恒平科學儀器有限公司

μEDX系列能量色散型微區X射線熒光光譜儀

島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

XRF7 便攜能量色散X射線熒光分析儀

北京普析通用儀器有限責任公司

XRF9 能量色散X射線熒光分析儀

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XRF8 全反射X射線熒光分析儀

北京普析通用儀器有限責任公司

EDX-LE能量色散型X射線熒光分析裝置

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能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE Plus

島津企業管理（中國）有限公司/島津（香港）有限公司

天瑞EDX3200S高效X熒光測硫儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

天瑞EDX3000 X熒光光譜儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

天瑞EDX6000B 能量色散X熒光光譜儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

天瑞EDX600 能量色散X熒光光譜儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

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標準號: SN/T 2638.1-2010
別名: SNT2638.1-2010
SN2638.1-2010
發布: 2010年
發布單位: 行業標準-商品檢驗
當前最新: SN/T 2638.1-2010

SN/T 2638的本部分規定了用波長色散X-射線熒光光譜發測定錳礦石中錳、鐵、硅、鋁、鈣、鎂、鈦、鉀和磷含量的方法。本部分適用于錳礦石中錳、鐵、硅、鋁、鈣、鎂、鈦、鉀和磷含量的測定。

專題

硅的測定波長氧化錳熒光光譜測定波長測定波長色散x射線熒光光譜法波長色散x射線熒光光譜法 x熒光光熒光光法熒光光譜與熒光光譜分線熒光光譜線熒光光譜

SN/T 2638.1-2010相似標準

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