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  • BS EN 62374:2008
    半導體裝置 依賴時間的柵極介電薄膜的介質擊穿(TDDB)試驗

    Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films


    標準號
    BS EN 62374:2008
    發布
    2008年
    發布單位
    英國標準學會
    當前最新
    BS EN 62374:2008
     
     
    被代替標準
    04/30113827 DC-2004

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