Marcos Hernandez現擔任賽默飛CTS產品資深應用科學家一職,負責與ESD產品相關的所有科學研發,測試應用,設備評估等工作。對于HBM/MM/TLP/CDM等測試應用極為熟悉與精通,曾入選JEDEC/JESD 14.1標準協會工作組成員,目前擔任ESDA HBM/JEDEC joint標準協會工作組成員。他是一位在ESD測試領域真正的技術先鋒與應用專家。...
普拉薩德,劉亞強.復雜的引線鍵合互連工藝[M].中國宇航出版社,2015.[5] JEDEC JESD22-A104E-2014,Temperature Cycling[S].[6] JEDEC JESD22-A110E-2015,Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test (HAST)[S].[7] JEDEC JESD22-A101D...
目前,課題組已完成DDR4內存緩沖控制器芯片組架構設計、芯片設計及流片、樣片封裝與測試、 LRDIMM設計、內存子系統模擬驗證平臺搭建等工作,并通過了Intel和內存條廠商的測試認證,符合JEDEC 0.92標準,功耗指標明顯優于國際同類產品。已申請發明ZL6項,累計銷售近10萬片,取得了較好的應用效果。...
熱性能測定儀是全球唯一基于JEDEC “靜態測試方法”(JESD51-1),實時采集器件瞬態溫度響應曲線的儀器,其測試延遲時間(tMD)和分辨率均高達1um。熱性能測定儀,是MicReD研發制造的用于半導體器件的先進熱測試儀,用于測試IC、LED、散熱器、熱管等器件的熱特性。...
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