ASTM G173-03(2008)
參考太陽光譜輻照度的標準表:37斜面上直接垂直和半球狀

Standard Tables for Reference Solar Spectral Irradiances: Direct Normal and Hemispherical on 37176; Tilted Surface

被代替

標準號

ASTM G173-03(2008)

發布

2003年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM G173-03(2012)

當前最新

ASTM G173-23

 

 

適用范圍

太陽能的吸收率、反射率和透射率是材料降解研究、太陽能熱系統性能、太陽能光伏系統性能、生物學研究和太陽模擬活動的重要因素。這些光學特性通常是波長的函數，這需要在計算太陽加權特性之前知道太陽通量的光譜分布。為了比較競爭產品的相對性能，或者比較產品在遭受風化或其他暴露條件之前和之后的性能，需要參考標準太陽光譜分布。這些表提供了適當的標準光譜輻照度分布，用于確定材料、太陽熱能、太陽能光伏和其他系統的相對光學性能。這些表格可用于評估用于太陽模擬目的的組件和材料，其中需要直射或半球形（即直射光束加漫射天空）光譜太陽輻照度。然而，這些表無意用作使用制造光源對材料進行室內暴露測試時使用的紫外線輻射的基準。直接和半球形傾斜光譜的總積分輻照度分別為 900.1 W·m-2 和 1000.4 W·m-2。請注意，在光伏應用中，無需調整幅度即可匹配半球輻照度 1000 W·m-2 的標準報告條件輻照度。先前定義的面向太陽 37° 傾斜表面的全局半球參考光譜 (G159) 很好地滿足了平板光伏研究、開發和工業界的需求。對主要條件和測量光譜的研究表明，這種全球半球參考光譜實際上可以在各種條件下獲得，并且這些條件可以解釋為大氣參數的許多組合的代表。使用 X1.4 中的輸入，可以以改進的光譜波長范圍、均勻的光譜間隔以及等于光譜間隔的光譜分辨率來精確地（但不精確地）再現早期的全球半球參考光譜。 SMARTS 版本 2.9.2 模型在指定條件下生成的參考光譜如圖 1 所示。生成參考光譜所需的確切輸入文件結構如表 1 所示。輔助 (ADJG173CD) 標準計算機軟件的可用性SMARTS 允許 (1) 使用上述輸入參數重現參考光譜； (2) 計算測試光譜以嘗試匹配指定 FWHM 下的測量數據，并評估大氣條件； (3)計算代表用于相對于任何一個或所有參考光譜進行分析的特定條件的測試光譜。與之前的標準光譜 (G159) 的差異可概括如下： 紫外光譜間隔延長（低至 280 nm，而不是 305 nm），分辨率更高（2002 波長，與 120 波長相比），恒定間隔（0.5 nm） 400 nm 以下，400 至 1700 nm 之間 1 nm，以上 5 nm），更好地定義大氣散射和氣體吸收，考慮更多物種，更好地定義外星光譜，更真實的光譜地面反射率，以及更低的氣溶膠光學深度，產生明顯更大的直接……

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