GB/T 13221-2004
納米粉末粒度分布的測定 X 射線小角散射法

Nanometer powder--Determination of particle size distribution--Small angle X-ray scattering method

適用范圍: 本標準規定了利用X射線小角散射效應測定納米粉末粒度分布的方法。本標準適用于測定顆粒尺寸在1nm～300nm范圍內的粉末的粒度分布，對于無機、有機溶膠及生物大分子粒度的測定，也可參照執行。當粉末的顆粒形狀偏離球形時，本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質的顆粒組成的混合粉末；一般也不適用于有微孔存在的粉末，但當微孔尺寸為納米級而顆粒(或骨架)尺寸在0.5μm以上時，可以用來測定相應的孔徑分布。

術語	描述
粒度分布 Particle Size Distribution	描述顆粒尺寸及其相對數量的分布情況
X射線小角散射 Small-angle X-ray Scattering (SAXS)	一種利用X射線在小角度范圍內的散射現象來分析顆粒尺寸的技術
累積體積分數 Cumulative Volume Fraction	落在特定粒度間隔內的體積分數的累計值，以百分比表示

X射線散射儀	用于測量X射線小角散射效應的專用設備
安東帕SAXSpace小角X-射線散射儀安東帕安東帕SAXSpace SAXSess mc2 X射線結構分析儀安東帕 SAXSess mc2 ELA-瑞士DECTRIS新型混合像素光子計數探測器 DECTRIS ELA SINGLA-瑞士DECTRIS新型混合像素光子計數探測器 DECTRIS SINGLA