ASTM B567-98(2009a) 用β射線反向散射法測量鍍層厚度的標準試驗方法標準

適用范圍: 涂層的厚度或單位面積的質量通常對其性能至關重要。對于某些涂層-基材組合，β反向散射法是無損測量涂層的可靠方法。如果規定了單位面積的質量，則該測試方法適用于厚度規范的驗收。如果規定了涂層厚度并且涂層材料的密度可能變化或未知，則不適合接受規范。
1.1 本測試方法適用于對金屬和非金屬基材上的金屬和非金屬涂層進行無損測量的β反向散射計。
1.2 本試驗方法測量單位面積涂層的質量，如果已知涂層的密度，也可以用線性厚度單位表示。
1.3 本試驗方法僅適用于涂層和基體的原子序數或等效原子序數相差適當量的情況（見6.2）。
1.4 Beta 反向散射儀器采用多種不同的放射性同位素。盡管這些同位素的活度通常很低，但如果處理不當，它們可能會帶來危險。本標準無意解決放射性材料的安全問題和正確處理。用戶有責任遵守有關處理和使用放射性材料的適用的州和聯邦法規。一些國家要求對放射性同位素進行許可和登記。
1.5 以 SI 單位表示的值應被視為標準值。本標準不包含其他計量單位。
1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。

ASTM B567-98(2009a)
用β射線反向散射法測量鍍層厚度的標準試驗方法