隨著分析技術由整體分析向微區分析發展,地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發展,巖礦的分析研究已經由宏觀深入到更微觀的領域。 波長色散X射線熒光光譜儀 ? 目前實驗室常規使用的微區分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質譜和各類電子顯微鏡等。...
SEM用于觀察標本的表面結構,其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關,也就是說與樣 品的表面結構有關,次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉變為光信號,再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度,顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象,反映了標本的表面結構。...
圖11 掃描式電子探針示意圖中示出的是波長色散譜儀(波譜儀)﹐利用分析晶體將不同波長的X射線分開(圖13b 因瓦合金夾雜物的能量色散譜a和波長色散譜b的比較 b)﹐也可以用硅滲鋰的探測器與多道分析器把能量不同的X射線光子分別記錄下來﹐給出X射線能譜曲線(圖13 a 因瓦合金夾雜物的能量色散譜a和波長色散譜b的比較 a)。...
隨著分析技術由整體分析向微區分析發展,地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發展,巖礦的分析研究已經由宏觀深入到更微觀的領域。目前實驗室常規使用的微區分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質譜和各類電子顯微鏡等。...
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