GB/T 19501-2004
電子背散射衍射分析方法通則
General guide for electron backscatter diffraction analysis
GBT19501-2004, GB19501-2004
GB/T 19501-2004 發布歷史
GB/T 19501-2004由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2004-04-30，并于 2004-12-01 實施，于 2014-03-01 廢止。
GB/T 19501-2004 在中國標準分類中歸屬于: G04 基礎標準與通用方法，在國際標準分類中歸屬于: 71.040.50 物理化學分析方法。
GB/T 19501-2004 電子背散射衍射分析方法通則的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 19501-2013 。
GB/T 19501-2004的歷代版本如下：
- 2013年 GB/T 19501-2013 微束分析 電子背散射衍射分析方法通則
- 2004年 GB/T 19501-2004 電子背散射衍射分析方法通則
本標準規定了電子背散射衍射分析方法。 本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的電子束顯微分析儀進行物相的鑒定、晶體取向、顯微織構以及晶界特性等方面的分析。
點擊查看大圖
- 標準號
- GB/T 19501-2004
- 別名
- GBT19501-2004
GB19501-2004 - 發布
- 2004年
- 總頁數
- 8頁
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 19501-2013
- 當前最新
- GB/T 19501-2013
GB/T 19501-2004 中可能用到的儀器設備
專題
GB/T 19501-2004相似標準
推薦
電子背散射衍射
20世紀90年代以來，裝配在SEM上的電子背散射花樣(Electron Back-scattering Patterns，簡稱EBSP)晶體微區取向和晶體結構的分析技術取得了較大的發展，并已在材料微觀組織結構及微織構表征中廣泛應用。該技術也被稱為電子背散射衍射(Electron...
電子背散射衍射的晶體分析
晶界、亞晶及孿晶性質的分析在得到EBSD整個掃描區域相鄰兩點之間的取向差信息后，可進行研究的界面有晶界、亞晶、相界、孿晶界、特殊界面（重合位置點陣CSL等）。相鑒定及相比計算就目前來說，相鑒定是指根據固體的晶體結構來對其物理上的區別進行分類。EBSD發展成為進行相鑒定的工具，其應用還不如取向關系測量...
電子背散射衍射（EBSD）的應用
電子背散射衍射（EBSD）的應用 EBSD系統中自動花樣分析技術的發展，加上顯微鏡電子束和樣品臺的自動控制使得試樣表面的線或面掃描能夠迅速自動地完成，從采集到的數據可繪制取向成像圖OIM、極圖和反極圖，還可計算取向（差）分布函數，這樣在很短的時間內就能獲得關于樣品的大量的晶體學信息，如：織構和取向差...
高精度對電子背散射衍射的重要性
高精度對電子背散射衍射的重要性精度、準確度、分辨率，這些都是衡量科學質量和嚴謹性的詞，因此經常用于科學儀器的小冊子和技術規范中。電子背散射衍射（EBSD）系統也不例外：例如，我們的AZtecHKL EBSD軟件的技術數據表提到了“分辨率”6次、“精度”4次、“準確度”2次。但這些概念對EBSD有多重...