GB/T 22319.8-2008
石英晶體元件參數的測量.第8部分:表面貼裝石英晶體元件用測量夾具
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
GBT22319.8-2008, GB22319.8-2008
- 標準號
- GB/T 22319.8-2008
- 別名
- GBT22319.8-2008, GB22319.8-2008
- 發布
- 2008年
- 采用標準
- IEC 60444-08:2003 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 22319.8-2008
- 引用標準
- IEC 60444-1:1986 IEC 60444-2:1980 IEC 60444-5:1995 IEC 61240:1994
- 適用范圍
- GB/T 22319 的本部分規定了能精確測量無引線表面貼裝石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻及等效電路參數的測量夾具，測量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995規定的零相位技術。
使用該測量夾具的等效電路和適用的頻率范圍見隨后條款。
此外，本部分也適用于IEC 61240-1994中的無引線晶體元件外殼。測量夾具的等效電路和電參數都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。負載電容范圍為10pF或更高。本部分還規定了測量系統和C
片的校準。 本部分適用于能準確測量石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻、并電容C 、動態電容C 和動態電感L 的測量夾具，其頻率范圍為1MHz～150MHz,采用基于IEC 60444-5-1995的自動網絡分析儀。
專題
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