ISO 11699-1:2008
無損檢測.工業X射線照相底片.第1部分:工業X射線照相底片系列的分類
Non-destructive testing - Industrial radiographic film - Part 1: Classification of film systems for industrial radiography
- 標準號
- ISO 11699-1:2008
- 發布
- 2008年
- 中文版
- GB/T 19348.1-2014 (修改采用的中文版本)
- 發布單位
- 國際標準化組織
- 當前最新
- ISO 11699-1:2008
- 引用標準
- ISO 11699-2 ISO/IEC 17025
- 適用范圍
- ISO 11699 這一部分的目的是確定膠片系統的性能。 ISO 11699 的這一部分適用于工業射線照相（無損檢測）中與指定鉛屏相結合的膠片系統的分類。 ISO 11699 的這一部分旨在確保射線照片的圖像質量（就其受膠片系統的影響而言）符合 ISO 5579、ISO 17636 和 EN 12681 等國際標準的要求。 ISO 11699 的一部分不適用于熒光增感屏使用的膠片的分類。 ISO 11699 這一部分中的膠片系統測量僅限于選定的輻射質量，以簡化程序。 薄膜的性能會隨著輻射能量的變化而變化，但薄膜系統質量的排序不會變化。 ISO 11699-2 中描述了評估照相過程的其他方法，通過該方法可以在工業給定的條件下控制膠片系統的性能。
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