透射電鏡是一種高分辨率、高放大倍數的顯微鏡,是材料科學研究的重要手段,能提供極微細材料的組織結構、晶體結構和化學成分等方面的信息。透射電鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數為幾萬~幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,必須制備更薄的超薄切片(通常為50~100nm)。常見的制樣方法有粉末法、化學減薄法、雙噴電解減薄法、離子減薄法、復型法。...
之前說過了X熒光光譜分析的發展,主要是從X射線發現到現今X熒光光譜分析技術的應用之間的發展歷程。而在將來,X熒光光譜分析儀的發展又是會怎么樣的趨勢呢? 在未來的數年,由于材料科學、空間技術、生物醫學、環境化工等學科的發展,X射線熒光分析技術將更加深入和廣泛。...
目前,所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀,可以同時觀察微觀組織和形貌,分析微區成分。因此,它是當今非常有用的科學研究工具。2.透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由于電子容易散射或被物體吸收,穿透率低,樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片,通常為50~100nm。所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時,你必須把它處理得很薄。...
通過對金屬銅膜和Cd摻雜氧化鋅半導體薄膜的掠出射電子探針能譜分析與常規出射電子探針定性分析對比、不同出射角條件下不同線系特征X射線的強度研究、樣品傾斜對電子探針能譜定量分析精度影響等方面進行了研究,證明了該方法能夠很好的解決許多電子探針常規出射分析薄膜樣品時存在的困難,如電子有效作用范圍深度減小,具有很好的表面靈敏性,襯底產生的熒光效應能降至最低,薄膜定量分析精確度提高。...
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